評価・解析業務

■対応業務

　◆VLSI／メモリ電気特性評価
　　・テスター評価、テストプログラム開発、テスト治具開発、ベンチ評価、波形観測

　◆不良解析
　　・電気特性解析、チップ観察（表面、断面）、FIB修正

　◆信頼性評価
　　・信頼性加速テスト（BT、温度サイクル、PCT、他）、電気特性評価

■対応デバイス（実績）

　◆メモリ
　　・DRAM,SDRAM,SRAM,SSRAM,ROM,FLASH,SIMM,DIMM　他

　◆ASIC
　　・NEC,富士通,日立,三菱,TI,三星,EPSON,ローム,沖,東芝,川鉄　他

■評価解析環境

　◆テスタ（100MHz,〜512ピン）、カーブトレーサー、光学顕微鏡（1500倍）、
　　パルスジェネレータ　他